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分析天平XP205DR
产品编号: 58981
产品: 分析天平XP205DR 
品牌: 梅特勒
型号: Array
规格: XP205DR
单价: 面议
最小起订: 1 台
供货总量: 10 台
货源周期: 现货
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-12-22 14:48
 
详细说明

技术指标
最大称量值 220g
精细量程的最大称量值 81g
可读性 0.1mg
精细量程的可读性 0.01mg
重复性:正常加载(sd) 0.06mg(200g)
重复性:微量加载 0.05mg(10g)
重复性:精细量程微量加载 0.015mg(10g)
线性 0.15mg
四角误差 0.25mg(100g)
灵敏度漂移 2.5x10-6  
灵敏度温度漂移(10-30°C) 1x10-6/°C  
接口更新速率 23/s  
天平外型尺寸(W×D×H mm) 263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm) 76×73
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