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分析天平XS205DU
产品编号: 58960
产品: 分析天平XS205DU 
品牌: 梅特勒
型号: Array
规格: XS205DU
单价: 面议
最小起订: 1 台
供货总量: 10 台
货源周期: 现货
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-12-22 14:49
 
详细说明

技术指标

量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
最大称量值 81/220g
最大称量值重复性(s) 0.1mg
10g重复性(s) 0.02mg
线性 ±0.2mg
1/2最大称量1)四角误差 0.3mg
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2) 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3) 0.0002%/a
典型称量时间4) 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度(mm) 235
秤盘尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
1)按照OIML76标准 2)温度范围10 …30℃ 3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术 4)包括样品处理时间设置
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