通过测量作物冠层PAR值提供了关 于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

SunScan 冠层分析系统原理：

根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

SunScan 冠层分析系统软件计算

Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：

直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的。

SunScan 冠层分析系统组成：

l SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器

l SunData软件：用来对测量参数进行分析处理

l BF5传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。内置自加热功能，减少雪冻影响。

l 三角架：用来安放BF5

l 数据采集终端：一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。