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LA-S植物图像分析仪系统(根系、叶分析组合版,A3高配)
型号:LA-S
订货号:
厂家:
价格:面议
区域:北京
     LA-S植物图像分析仪系统(根系、叶分析组合版,A3高配)用途

    用于植物叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、叶色分档分析、根系分析等

     

    LA-S植物图像分析仪系统(根系、叶分析组合版,A3高配)特点

    图像可放大缩小和局部观察,实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正

    监视和修正植物对象分析的精度

    根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除

    自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正

    具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量

    封闭/半封闭式扫描、无直射强光干扰

    图像(可保留原图/结果图)和全部分析结果以数据库存储

    智能查询:按日期、编号等自动搜索查询,查询结果以图像和数据库形式显示

    数据报表导出:统计分析结果能以Excel表、Word文档、PDF文档导出,并自动形成总报表输出

     

    LA-S植物图像分析仪系统(根系、叶分析组合版,A3高配)功能

    1) 叶分析测量参数:

    可同时分析多张叶片面积,及分析小至1mm2的叶片

    叶面积(可累计面积)、叶片面积(可累计面积)、叶子穿孔面积(可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长(不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量,叶片锯齿高度、宽度、数量测量,叶孔面积测量

    包膜(齿-齿之间的直线长度和),包膜形成的投影面积

    不规则叶片形态分析,真彩的病斑、虫损面积分析(含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析),叶片颜色分档分析(包括按叶片颜色自动分档查询,用于氮肥状态的外观评价)

    同时分析多片叶时,可得到叶片总面积、周长等参数,也可得到其中每一片叶片的周长、面积等参数

    2) 植物根系可分析测量:

    根总长;根平均直径;根总面积;根总体积;根尖计数;分叉计数;交叠计数;根直径等级分布参数;根尖段长分布

    可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等及其分布参数

    能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积

    能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等,可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改,可不等间距地自定义),并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果

    精度:根长≤±1%;面积:优质图像质量时<1%,标准图像质量时≤3%。匹配专门的双光源照明系统,提供高分辨率的彩色或黑白图像,去除了阴影和不均匀现象的影响,有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等,可读取TIFFBMPJPEGPNG标准格式的图像。

     

     LA-S植物图像分析仪系统(根系、叶分析组合版,A3高配)基本技术指标

    光学分辨率3200×1600dpiA3Microtek pHantom 9800XL双光源彩色扫描仪

    最大分析测量面积:扫描叶面积305mm × 431.8mm,扫描根及针叶面积面积305mm × 431.8mm,扫描X光胶片面积304.8mm × 406.4mm,最小像素尺寸0.008mm×0.0159mm,动态密度: 3.7,色彩深度: 48-bit

    图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X≤±0.5 %Y≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%。测量总时间:30~60

    为在野外便携分析,加配光学分辨率9600×9600 dpiCanoScan LiDE 700F便携式扫描仪

    电脑(需另配)

    暂无信息
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