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LA-S植物根系分析仪系统
型号:LA-S
订货号:
厂家:
价格:面议
区域:北京
     LA-S植物根系分析仪系统用途

    用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析

     

    LA-S植物根系分析仪系统特点

    可自动分析测量

    人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正

    统计效果监视:监视和修正植物对象分析的精度

    自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除

    自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量

    分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计,还可输出分析标记图

     

    LA-S植物根系分析仪系统功能

    植物根系可自动分析测量:

    根总长、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、根直径等级分布参数

    可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等,及其分布参数

    根尖段长度分布(即:根尖到其第1个分叉的长度)

    能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积

    能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等

    可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改)

    能进行根的分叉裁剪修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果。精度:根长≤±1%;面积:优质图像质量时<1%,标准图像质量时≤3%

    匹配专门的双光源照明系统,提供高分辨率的彩色或黑白图像,去除了阴影和不均匀现象的影响,有效保证图像质量

    采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等,可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像

     LA-S植物根系分析仪系统基本技术指标

    标配光学分辨率4800×9600A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪,最大分析测量面积:反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm),扫描根面积30 cm×20 cm,可分辨的最小尺寸0.008 ×0.008 mm

    植物图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X≤±0.5 %Y≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%

    测量总时间:30~60

    用户需另配计算机

    暂无信息
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