免费发布产品 快速发布资讯
 
首页 > 产品展示 > 实验室设备 > 天平 > 准微量|半微量天平 > METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR

METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR

型号:XPE105DR
订货号:
厂家:梅特勒-托利多国际贸易(上海)有限公司
价格:面议
区域:北京
    METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR图1
    METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR
    型号:XPE105DR
    最大秤量:120 g/41 g
    可读性:0.1 mg; 0.01 mg
    校准方式:内部校准

    静电检测

    自动检测任何出现在称量室中可能导致不合格结果的相关静电荷。

    轻松的天平管理

    创新性 StatusLightTM 可以快速提供天平状态信息,实现即时质量控制。采用 Test Manager 确保合规性。

    可轻松升级

    XPE 天平通过自动化粉末和液体加样开始您的流程,是一个完美的起点。利用 Quantos 加样模块轻松升级。

    技术参数:


    大秤量120g/41g
    可读性0.1mg;0.01mg
    重复性(校验砝码)0.015mg(5g)
    最小称量值 (USP),典型值14 mg
    校正内部/proFACT高级版
    自动最小称量值(USP),典型值10mg
    秤盘外形尺寸(宽x深)73mmx78mm
    合法交易No
    稳定时间1.5s
    重复性(典型)7µg
    线性误差(典型值)± 0.1mg
    尺寸 (高x宽)322mmx263mm
    物料号 (s)30087924




联系我们
 
网站首页  |  关于我们  |  联系方式  |  使用协议  |  版权隐私  |  网站地图  |  排名推广  |  广告服务  |  积分换礼  |  网站留言  |  RSS订阅  |  违规举报  |  京ICP备案号:10020141号-3