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美国泛美 35超声波测厚仪
型号:美国泛美 35超声波测厚仪
订货号:
厂家:美国
价格:面议
区域:北京
     美国泛美 35超声波测厚仪

    在待测材料的另一侧难于或无法触到的情况下,Panametrics® 35系列超声精确测厚仪提供了简便易行、经济划算的解决方案。这些坚固小巧的测厚仪可对许多不同形状和尺寸的材料进行稳定性强、可重复性的厚度测量。精确的厚度测量值以大号数字显示在背光LCD显示屏上;如选择A扫描模式,则厚度测量值与实时波形一同显示。

    Panametrics 35系列的特性

    美国泛美 35超声波测厚仪

    • 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
    • 可测厚度范围宽:0.08 mm~635.0 mm(0.0030 in.~25.0 in.),取决于仪器和材料。
    • 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
    • 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
    • 手持式,仅重0.24公斤(8.5盎司)。
    • 最小/最大模式
    • 高-低报警
    • 英制和公制显示(英寸或毫米)
    • 多种语言用户界面
    • 长效电池

    Panametrics 35型和35DL型

    在大多数应用中都可应用35型和35DL型
    35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25~30 MHz的探头,因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说,探头频率越高而直径越小,对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

    应用
    • 从薄到厚的大多数材料
    • 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
    • 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢卷材及机加工部件
    • 汽缸孔、涡轮叶片
    • 玻璃灯泡、瓶子
    • 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
    • 半径较小的曲面部分或容器
    • 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

    Panametrics 35HP型和35DL-HP型

    HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下,使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。

    应用
    • 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料
    • 厚金属铸件

    • 厚橡胶轮胎、履带
    • 玻璃纤维船体、储罐
    • 复合材料板
    • 分辨率为0.01毫米或0.001英寸

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