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日本日置 3504-40C测试仪
型号:日本日置 3504-40C测试仪
订货号:
厂家:日本
价格:面议
区域:北京
     日本日置 3504-40C测试仪

     日本日置 3504-40C测试仪

    封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

    · 高速测量2ms

    · 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断

    · 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能

    · 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试

    · 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试

    · 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

    输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

    基本参数

    日本日置 3504-40C测试仪

    测量参数

    Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)

    测量范围

    C:0.9400pF~20.0000mF
    D:0.00001~1.99000

    基本确度

    (代表值)C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
    ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数

    测量频率

    120Hz, 1kHz

    测量信号电平

    恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
    测量范围:
    CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
    CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
    CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

    输出电阻

    5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外)

    显示

    发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)

    测量时间

    典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
    ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

    机能

    4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)

    电源

    AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA

    体积及重量

    260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

    附件

    电源线×1,预备电源保险丝×1

     

    ,124��otH�oP�oold; font-size:10.5000pt; background:rgb(255,255,204); " >附件

    携带盒(1),背带(1)

     

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