免费发布产品 快速发布资讯
 
首页 > 产品展示 > 实验室设备 > 8080XP-Ⅱ电路维修测试仪
8080XP-Ⅱ电路维修测试仪
型号:8080XP-Ⅱ电路维修测试仪
订货号:
厂家:国产
价格:面议
区域:北京
     8080XP-Ⅱ电路维修测试仪

     ICT4040XP/4880XP/8080XP 电路板故障检测仪

    keqi[ICT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用,全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足,能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下,对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试,在线检测元器件好坏,迅速检测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。
    产品特点:

    ◆先进的测试技术,强大的驱动能力,任何故障原因的电路板皆可修好

    ◆友好简单的中文操作界面,不经专业训练,任何人均可成为维修专家

    ◆无需电路原理图,不必知道器件型号,对任何电路板皆可快速维修

    ◆40/40×2路数字电路测试功能,备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库

    ◆40/40×2(ASA)V/I,曲线分析测试功能

    ◆电路板测试存储功能,被测板可与之比较

    ◆与进口同类仪器比较,性价比更优,操作更方便

    ◆通用于各类双列直插式封装芯片,可为大中规模集成电路提供分析测试

    ◆本功能亦可通过学习记录,比较分析来测试


    ICT4040XP/4880XP/8080XP 电路板故障检测仪

    工作原理: 全功能ASA+ICT测试器 
          ASA(Analong signature Analysis)对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号,以便产生一个阻抗性图并在CRT上显示、且可存储,以备比对。所有测试都是在静态下(不加电)执行,所以不会伤害元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形,并且对各类分立元件如:电阻、电容等同样有效。

         ICT(In circuit Testing)它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较,测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态,元件输入管脚的输入波形,同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形,以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏,也可测试分析,还可识别不明型号的IC。

     ICT4040XP/4880XP/8080XP 电路板故障检测仪

    [ICT]系列检测仪检测更加可靠准确
    ■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠 ■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试集成电路在线功能测试    

    ICT4040XP/4880XP/8080XP 电路板故障检测仪集成电路在线状态测试

    本功能采用后驱动隔离技术,可在线判定IC逻辑功能是否正确,可测74系列、4000/45000逻辑IC、75系列接口IC各种存储器等千余种集成电路。 
    1、快速测试:直接显示测试结果,迅速确定可疑IC

    2、分析测试:显示全部测试过程,测试激励。预期和实际响应,帮助分析故障原因 

    3、器件识别:查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。
    集成电路在线状态测试
    通过好坏板上相应IC的状态进行比较,找出有故障的IC。
    1、状态学习:在线学习无故障IC的引脚关系,互连状态和测试的激励与响应,并存入数据库中 
    2、状态比较:同故障板上相应IC在线进行状态比较,根据两者差异判定IC好坏 
    3、状态显示:显示存入电脑库中的各IC的状态资料。
    集成电路离线功能测试
    离线测试IC功能好坏,自动识别未知型号的芯片
    IC逻辑图查询
    可查阅逻辑电路的逻辑功能图,管脚图及部分参数。
    V/I曲线测试
        通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC

    1、学习:在线学习无故障板上各节点的动态阻抗曲线(V/I曲线),并存入数据库中 

    2、曲线比较:同故障板上相应节点的动态阻抗曲线进行比较,根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC是否损坏 

    3、曲线显示:显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大
    网络提取测试
        使用户方便的测试出元器件之间的连接关系,辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采用了四种模式: 

    1、探棒对探捧(“棒”—“棒”模式)  

    3、测试夹对探捧(“夹”—“棒”模式) 

    2、探捧对测试夹(“棒”—“夹”模式)

    4、测试夹对测试夹(“夹”—“夹”模式)


    开发编译
        TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立,并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来,随时用热键查看相应说明文件。

    1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a)在TVED图形界面上直接建立  b)读入DCL语言的编译结果

    2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能,参考取回的响应,不断对测试图形加以调整、修改。

    3、4种测试方式:   a)完整执行一个测试  b)执行一个测试的一部分c)循环执行 d)单步运行


    型号

    ICT4040XP

    ICT4880XP

    ICT8080XP

    通道

    ICTF:  40th

    V/I曲线:40th

    ICTF:  40th

    V/I曲线: 80th

    ICTF: 40×2th

    V/I曲线: 80th

    附件

    双列直插夹具(7件)    表面贴双列直插夹具(7件)   单排式40脚夹具(3件)

    价格

    28,000

    36,000

    48,000

联系我们
 
网站首页  |  关于我们  |  联系方式  |  使用协议  |  版权隐私  |  网站地图  |  排名推广  |  广告服务  |  积分换礼  |  网站留言  |  RSS订阅  |  违规举报  |  京ICP备案号:10020141号-3