HAAS-2000 高精度快速光谱辐射计（实验室级）
世界领先的快速光谱辐射计。完全满足美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求。
可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。
国家863计划研究成果，获美国专利授权（专利号：US 7,978,324 B2），“国家首批自主创新产品”，“国家重点新产品”荣誉。
世界领先的快速光谱辐射计。完全满足美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求。
可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。
国家863计划研究成果，获美国专利授权（专利号：US 7,978,324 B2），“国家首批自主创新产品”，“国家重点新产品”荣誉。
HAAS-2000 高精度快速光谱辐射计（实验室级）
一、产品选型表：
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规格
项目
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HAAS-2000
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UV
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VIS
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UVIS
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VIR
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UVIR
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IR1
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IR2
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波长测量范围
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200-400nm
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380-780nm
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200-800nm
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350-1100nm
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200-1200nm
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780-1650nm
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1500-2550nm
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光学带宽
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1nm
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2.0nm
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4nm
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4nm
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5nm
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9nm
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15nm
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波长准确度
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±0.1nm
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±0.3nm
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±0.3nm
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±0.3nm
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±0.3nm
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±0.5nm
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±3nm
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二、基本工作原理：
世界顶级高精度快速光谱辐射计一般由凹面平均衍射光栅和科学级CCD构成，世界上也只有极少数制造商能够提供如此高精度的CCD和光栅。然而实践证明即便是世界顶级的商用凹面平场衍射光栅和世界顶级的商用科学级CCD，在系统光学耦合匹配方面仍存在一定不足，远方公司在高精度快速光谱仪方面积累了丰富经验，改良了CCD与光栅的匹配设计，使整个系统的光学匹配更趋完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。此外，远方公司采用独特的杂散光控制技术、宽动态线性技术、精密CCD电子驱动技术和复变矩阵软件技术，并成功应用了带通色轮校正技术(BWCT)、分光积分结合技术(SBCT)，以及修正的NIST杂散光校正技术等多项专利技术，整个系统实现了前所未有的5.00E-05的极低杂散光水平（在A光源严格条件下）和0.3%的全动态光度线性性能。关键技术指标在全球处领先地位。