广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数(LAI)和叶片平均倾角(MTA)等。

植物冠层分析仪型号：SPL-2000

原理和方法

 采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。

功能特点

1.非破坏性地测定冠层结构

2.可以测量冠层内外的光合有效辐射（PAR）

3.手持式万向接头自动水平调整探头，

4.随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，即时决定图像的取舍

5.由计算机电池提供电源极其轻便、便于观测，尤其适合完成野外繁重的观测任务

6. 图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件 

7.通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上，可以在野外即时观察图像，选择合理的测点，将图像存贮。

8.半球图象上可以设计任何地点、任何时间的太阳视运动轨迹，以及冠层内任意时刻的受光状况。