单色波长色散X射线荧光 (MWD XRF) 技术采用先进的聚焦单色反射镜，提高了激发光的强度，与非聚焦和单色光WDXRF技术相比，改善了信噪比以及检测极限和精确度，降低了仪器对基体效应的敏感度。测量过程中，来自第一块反射镜的单色聚焦光束打在样品上，激发样品发射出特征荧光X射线。第二块单色反射镜筛选出硫的特征X射线，并将其反射聚焦到探测器上。MWD XRF是一种直接测量技术，不需要辅助气体或样品转化。

• ● 内置温度探头，可进行温度补偿，测量结果准确反应速度快速稳定。
• ● 校正历史一直跟随电极，操作简便，即插即用应用范围广泛。
• ● 采用哈希荧光法测量技术，无需极化，无需校准，测量准确，抗干扰能力强，清洗方便，维护率低，使用寿命长。
• ● 数字化电极，可满足不同工况的电导测量要求，校准信息存储于仪器内部，即插即用，测量精度高，重复性好。