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UVIKON XS紫外分光光度计
产品编号: 77393
产品: UVIKON XS紫外分光光度计 
品牌: 美国
型号: Array
规格: UVIKON XS紫外分光光度计
单价: 面议
供货总量: 库存充足
货源周期: 现货
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-12-18 17:10
 
详细说明
 仪器介绍:

由美国UNICO母公司设计。产品已通过ISO9001质量体系认证、国内的计量合格认证和英国dB Technology测试中心CE认证。 

光谱扫描

A:扫描间隔:0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0nm 
B:扫描区间可任意输入 
C:高、中、低三档扫描速度可自选 
D:坐标参数、扫描次数、T/A/E模式皆可自选 
E:有寻找波峰、谷功能

动力学测试

A:最小采样间隔0.5秒,最大运行时间9小时 
B:可设定延时时间、运行时间、采样时间间隔 
C:T/A模式转换 
D:有计算功能

多波长测试

A:测试波长点多达10个 
B:测试样品3-8个

建立标准曲线、定量测试

A:单波长法、等吸收点双波长法和三点法 
B:可做一阶过零、不过零线性回归和二阶、三阶曲线拟合

DNA/Protein测试

A:可手动、自动测试,测试波长缺省值为260nm、280nm和320nm
B:可计算DNA、Protein和Ratio比率

其它功能

A:波长校准 
B:光度精度复核 
C:波长精度复核 
D:能量最大点寻找(用于微量测试) 
E:可直接连接HP和Epson打印机打印实验数据和图谱。

技术参数:

光学系统

  双光束,1200条/毫米衍射光栅

波长范围

  190-1100nm

波长精度

  ±0.3nm

波长重复性

  0.1nm

光度范围

  0-200%T, -0.3-3.0A, 0-9999C(0-9999F)

光度精度

  ±0.3%T

杂散光

  ≤0.05%T在220nm和340nm处

带宽

  1.8nm

稳定性

  ±0.001A/h(500nm,预热后)

基线平直度

  ±0.002A

显示

  320×240图形液晶显示器

数据输出

  RS-232C串口,USB接口,Centronics并口

打印机接口

  并行口

外形尺寸

  620×405×280(mm)

重量

  24kg

配置

玻璃比色皿  两套,玻璃比色皿1套(4个);石英比色皿,1套(2个)

软件1套,加密口1个,主机1个,比色皿架子,连接线一根,仪器说明书和软件说明书各一本。

UVIKON XS紫外分光光度计
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